計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)檢測主要用于檢測高密度和大尺寸物體，應(yīng)用高能量X射線探，需有更高的系統(tǒng)分辨力等等。目前計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)技術(shù)的應(yīng)用十分廣泛；在汽車等制造領(lǐng)域，可以用于零部件的缺陷檢測、質(zhì)量控制和實效分析；在電子行業(yè)，可以用于芯片封裝多余物檢測、封裝工藝改進(jìn)和逆向設(shè)計;在航空航天領(lǐng)域可用于產(chǎn)品質(zhì)量控制、裝配工藝分析；總之，凡是需要觀測樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的場合都能用到計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，是一種十分理想的無損檢測手段。計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)常用的CT掃描模式有II代掃描、III代掃描。II...

計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)能在不破壞工件結(jié)構(gòu)的情況下實現(xiàn)模具及模具產(chǎn)品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的幾何尺寸以及曲面測量，計算出測量目標(biāo)的長寬高、面積、表面積、體積等各種幾何參數(shù)，實現(xiàn)零件與CAD模型對比、幾何尺寸與公差（GD＆T）分析、零件與零件對比。同時可實現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)部多種缺陷(如裂紋、氣泡、夾雜、疏松、脫粘、裝配缺陷等)的無損檢測和無損質(zhì)量評價，檢測對象也幾乎涵蓋了各種材質(zhì)和各種結(jié)構(gòu)類型的模具及模具產(chǎn)品。對已知工件，可以通過計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)檢測掃描，直接得出該工件的三維立體圖，指導(dǎo)模具設(shè)計...

氮氣氣體發(fā)生器可為氣相色譜提供穩(wěn)定的氫氣氣源，操作簡單，只需啟動電源開關(guān)，即可產(chǎn)氣，輸出壓力穩(wěn)定，流量由LED數(shù)碼顯示，更直觀醒目。發(fā)生器電解槽的類型，即：堿性電解槽、基于離子交換技術(shù)的聚合物薄膜電解槽和固體氧化物電解槽。氮氣氣體發(fā)生器主要由電解系統(tǒng)、壓力控制系統(tǒng)、凈化系統(tǒng)和顯示系統(tǒng)組成。通過電解水產(chǎn)生氫氣，產(chǎn)生的氧氣則放空進(jìn)入大氣。具有電解面積大、池溫低、性能好、產(chǎn)氣量大、純度高的優(yōu)點。氮氣氣體發(fā)生器的使用方法：開機(jī)時，先用原料氫置換系統(tǒng)，從閥3放空，待系統(tǒng)內(nèi)的高純氮置換干...

聲掃顯微鏡專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。這些不透明物體無法在普通的透射光顯微鏡中觀察，因此金相和普通顯微鏡的主要差別在于前者以反射光，而后者以透射光照明。在金相顯微鏡中照明光束從物鏡方向射到被觀察物體表面，被物面反射后再返回物鏡成像。這種反射照明方式也廣泛用于集成電路硅片的檢測工作。聲掃顯微鏡將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計算機(jī)圖像處理技術(shù)完美地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計算機(jī)上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進(jìn)行分析，評級等以及對...

實驗室離心機(jī)是利用離心力，不同物質(zhì)在離心場中沉淀速度的差異，對混合溶液進(jìn)行快速分離的專門設(shè)備，是一種將裝有樣品溶液的離心管、瓶或袋的轉(zhuǎn)頭置于離心軸上，利用轉(zhuǎn)頭繞軸高速旋轉(zhuǎn)所產(chǎn)生的強(qiáng)大離心力，使樣品中不同性質(zhì)顆粒相互分離的特殊裝置，可以實現(xiàn)樣品的分析、分離。下面我們來看看實驗室離心機(jī)維護(hù)保養(yǎng)方式：1、實驗室離心機(jī)必須嚴(yán)格按照使用說明書操作，每次使用前后要保證儀器內(nèi)外的干燥及衛(wèi)生；2、實驗室離心機(jī)使用后離心腔內(nèi)及時用中性洗滌劑清潔并用軟布擦干，不允許用非中性清潔劑擦洗轉(zhuǎn)子，防止化...

微焦點X射線實時成像系統(tǒng)可以用于所有X、γ射線裝置的防護(hù)水平檢測，尤其適用于工業(yè)脈沖X光機(jī)及醫(yī)學(xué)攝影用X光機(jī)機(jī)房的泄露水平檢測，同時適用于脈沖反應(yīng)堆的感興趣區(qū)域劑量率檢測。是放射衛(wèi)生評價、環(huán)境影響評價、科學(xué)試驗監(jiān)測、國土安全檢測、核應(yīng)急場合的理想檢測儀。微焦點X射線實時成像系統(tǒng)主要是檢測半導(dǎo)體接線處的焊接問題，焊接容易出現(xiàn)虛焊、漏焊等缺陷，一旦形成這些缺陷，半導(dǎo)體就容易出現(xiàn)短路等問題，為了半導(dǎo)體元件的正常使用，在焊接完成后需要進(jìn)行缺陷檢測。是目前市場上用于樣品內(nèi)部檢測的設(shè)備，...

計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可按國家標(biāo)準(zhǔn)測量CT伏安特性及曲線、5%、10%誤差曲線、直阻、變比極性；可測裝在變壓器中的套管CT;可直接測量電壓互感器的變比；可定性測量電壓互感器的比差和極性；可現(xiàn)場測量電流和電壓互感器的實際二次負(fù)荷等等。計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)的系統(tǒng)性能指標(biāo)：掃描模式：常用的CT掃描模式有II代掃描、III代掃描。III代掃描具有更高的效率，但是容易由于校正方法不佳而導(dǎo)致環(huán)狀偽影（所以減弱或消除環(huán)狀偽影是體現(xiàn)CT系統(tǒng)制造商技術(shù)水平的主要內(nèi)容之一）；II代掃描效率大約是III...

超聲波掃描顯微鏡的兩個偏振濾光片互為90°，以獲得所謂的“暗位”，此時視野是全黑的，如果樣品在光學(xué)上表現(xiàn)為各向同性(單折射體)，則無論怎樣旋轉(zhuǎn)載物臺，視場仍是黑暗，這是因為起偏鏡所形成的線偏振光的振動方向不發(fā)生變化，根據(jù)馬呂斯定律，透射光的強(qiáng)度為0。如果樣品具有雙折射特性，則視野會變亮，這是由于從起偏鏡射出的線偏振光進(jìn)入雙折射體后，產(chǎn)生振動方向不同的兩種直線偏振光(o光和e光)，當(dāng)這兩種光通過檢偏鏡時，由于e光并不服從折射定律，其與檢偏鏡偏振方向不是90°，所以可透過檢偏鏡，...